Reference number
ISO 24173:2009
© ISO 2024
ISO 24173:2009
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Edition 1
2009-09
Retirada
Retirada (Edición 1, 2009)

Resumen

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Informaciones generales

  • Estado
     : Retirada
    Fecha de publicación
     : 2009-09
    Etapa
    : Retirada de la Norma Internacional [95.99]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 43
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.50 
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9
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