ISO 3497:2000
2000-12
Résumé
AVERTISSEMENT : La présente Norme internationale ne traite pas des problèmes de protection du personnel contre les rayons X. Pour tout renseignement sur cet aspect essentiel, il convient de se référer aux Normes internationales et normes nationales, ainsi qu'aux codes locaux, s'il en existe. La présente Norme internationale spécifie des méthodes de mesurage, par spectrométrie de rayons X, de l'épaisseur des revêtements métalliques. Les méthodes de mesurage de la présente Norme internationale sont applicables, avant tout, à la détermination de la masse de revêtement par unité de surface. Connaissant la masse volumique du matériau de revêtement, il est possible, également, d'exprimer les résultats mesurés en épaisseur linéaire de revêtement. Les méthodes de mesurage permettent de mesurer simultanément les systèmes de revêtement ayant jusqu'à trois couches, ou de mesurer simultanément l'épaisseur et les compositions des couches ayant jusqu'à trois composants. Les plages pratiques de mesurage des matériaux de revêtement indiqués sont largement fonction de la puissance de la fluorescence X caractéristique à analyser et de l'incertitude de mesure tolérée, et peuvent différer selon l'appareillage et le mode opératoire utilisés.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2000-12Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 3Nombre de pages: 19
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Comité technique :ISO/TC 107ICS :25.220.40
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Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 3497:1990
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Actuellement