ISO 18117:2009
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ISO 18117:2009
42933

État actuel : Publiée (En cours d'examen)

Le dernier examen de cette norme date de 2019. Cette édition reste donc d’actualité.
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std 1 63 PDF
std 2 63 Papier
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Résumé

L'ISO 18117:2009 fournit des lignes directrices relatives à la manipulation et aux récipients de stockage des échantillons avant l'analyse chimique des surfaces. Elle est destinée à aider l'utilisateur des services d'analyse des surfaces à comprendre les exigences de manipulation spéciales des techniques d'analyse chimique des surfaces, en particulier les suivantes: la spectroscopie des électrons Auger (AES), la spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) et la spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS ou ESCA). Les protocoles présentés peuvent également être appliquée à d'autres techniques d'analyse (TXRF, par exemple) sensibles à la composition des surfaces. Dans certains cas, pour des échantillons spécifiques, des précautions supplémentaires peuvent être requises.

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Informations générales

  •  : Publiée
     : 2009-03
     : 2009-06
     : 2009-06
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  •  : 1
     : 9
  • ISO/TC 201/SC 2
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

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