ISO 16773-3:2016
2016-04
ISO 16773-3:2016
Résumé
ISO 16773-3:2016 spécifie un mode opératoire permettant d'évaluer le montage expérimental de la SIE sur des éprouvettes revêtues de haute impédance. Des cellules test sont utilisées à cette fin pour simuler les éprouvettes revêtues de haute impédance. En se basant sur les circuits équivalents décrits, la présente partie de l'ISO 16773 donne des lignes directrices pour l'utilisation de cellules test afin de cautionner le protocole d'essai, y compris le mesurage, l'ajustement de la courbe et la présentation des données.
NOTE En raison de la nature des mesurages, les examens d'éprouvettes revêtues de haute impédance sont plus sensibles aux artefacts provenant des interférences électromagnétiques. Par conséquent, la présente partie de l'ISO 16773 traite des aspects relatifs au mesurage d'éprouvettes de haute impédance au moyen de cellules test appropriées dans une cage de Faraday. La plupart des fabricants proposent toutefois des cellules test complémentaires pour la plage des faibles et moyennes impédances. Ceci permet de vérifier le montage dans la plage de faible impédance correspondante.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2016-04Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 2Nombre de pages: 11
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Comité technique :ISO/TC 35/SC 9ICS :87.040
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Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 16773-3:2009
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