Norme internationale
ISO 16700:2016
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image
Numéro de référence
ISO 16700:2016
Edition 2
2016-08
© ISO 2024
Norme internationale
Prévisualiser
Indisponible en français
Publiée (Edition 2, 2016)
Cette norme a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2023. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 16700:2016

Format
Langue
CHF 96
Convertir les francs suisses (CHF) dans une autre devise

Résumé

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2016-08
    Stade
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  • Edition
     : 2
  • Comité technique :
    ISO/TC 202/SC 4
    ICS :
    37.020 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Store
  3. Catalogue de normes
  4. TC
  5. ISO/TC 202/SC 4
  6. ISO 16700:2016