Информация
-
Секретариат: JISC
Менеджер комитета: -
Председатель (до конца 2023):Dr Hidehiko Nonaka
-
Менеджер ИСО по техническим программам [TPM]:Менеджер ИСО по редакционным [EM]:
- Дата создания : 1991
Область деятельности
Standardization in the field of surface chemical analysis. Surface chemical analysis includes analytical techniques in which beams of electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are incident on the specimen material and scattered or emitted electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are detected. It also includes techniques in which probes are scanned over the surface and surface-related signals are detected.
Excluded:
- Scanning electron microscopy which is within the scope of ISO/TC 202.
Note:
With current techniques of surface chemical analysis, analytical information is obtained for regions close to a surface (generally within 20 nm) and analytical information-versus-depth data are obtained with surface analytical techniques over greater depths.
Быстрый поиск
-
Рабочая программа
Проекты и новые рабочие темы -
Бизнес-планы
Бизнес-планы ТК для публичного рассмотрения -
Рабочая область
Рабочие документы (требуется наличие учетной записи) -
Электронные приложения ИСО
ИТ-инструменты, разработанные для поддержания процесса разработки стандартов -
Публичный контент группы
Просмотр документов, предоставленных данной группой
Данный комитет занимается разработкой 9 стандарта для достижения следующихЦели в области устойчивого развития:
Ссылки | Заголовок | Тип |
---|---|---|
ISO/TC 201/SC 1 | Terminology | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 2 | General procedures | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 3 | Data management and treatment | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 4 | Depth profiling | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 6 | Secondary ion mass spectrometry | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 7 | Electron spectroscopies | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 8 | Glow discharge spectroscopy | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 9 | Scanning probe microscopy | Sub committee |
ISO/TC 201/SC 10 | X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis | Sub committee |
ISO/TC 201/SG 1 | Nano-materials characterization | Working group |
ISO/TC 201/SG 2 | Surface Analysis of Energy Materials | Working group |
ISO/TC 201/WG 4 | Surface characterization of biological materials | Working group |
ISO/TC 201/WG 5 | Optical interface analysis | Working group |
Комитет по рабочим связям с ISO/TC 201
Комитет, указанный ниже, имеет доступ к следующим документам ISO/TC 201:
Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
---|---|---|
IEC/TC 113 | Nanotechnology for electrotechnical products and systems | IEC |
ISO/TC 107 | Metallic and other inorganic coatings | ISO |
ISO/TC 172/SC 5 | Microscopes and endoscopes | ISO |
ISO/TC 202 | Microbeam analysis | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Комитеты по рабочим связям ISO/TC 201
ISO/TC 201 можно получить доступ к документам комитетов ниже
Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
---|---|---|
IEC/TC 113 | Nanotechnology for electrotechnical products and systems | IEC |
ISO/TC 150 | Implants for surgery | ISO |
ISO/TC 172/SC 5 | Microscopes and endoscopes | ISO |
ISO/TC 202 | Microbeam analysis | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
ISO/TC 201 - Секретариат
JISC [Japan]
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japan