Ссылочный номер
ISO 14237:2000
ISO 14237:2000
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Версия 1
2000-02
В время отменен
ISO 14237:2000
23942
Отозвано (Версия 1, 2000)

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2000-02
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 6
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ