ISO/TR 15969:2001
Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtered depth
Reference number
ISO/TR 15969:2001
Версия 1
2001-06
© ISO 2024
В время отменен
Отозвано (Версия 1, 2001)

Тезис

This Technical Report gives guidelines for measuring the sputtered depth in sputtered depth profiling. The methods

of sputtered depth measurement described in this Technical Report are applicable to techniques of surface

chemical analysis when used in combination with ion bombardment for the removal of a part of a solid sample to a

typical sputtered depth of up to severalmicrometres.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2001-06
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 4
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO/TR 15969:2001