Ссылочный номер
ISO/TS 10867:2010
© ISO 2024
Технические спецификации
ISO/TS 10867:2010
Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
Версия 1
2010-09
В время отменен
Отозвано (Версия 1, 2010)

Тезис

ISO/TS 10867:2010 provides guidelines for the characterization of single-wall carbon nanotubes (SWCNTs) using near infrared (NIR) photoluminescence (PL) spectroscopy.

ISO/TS 10867:2010 provides a measurement method for the determination of the chiral indices of the semi-conducting SWCNT in a sample and their relative integrated PL intensities.

The method can be expanded to estimate relative mass concentrations of semi-conducting SWCNTs in a sample from measured integrated PL intensities and knowledge of their PL cross-sections.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2010-09
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 229
    ICS :
    07.120 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 07
  6. 07.120
  7. ISO/TS 10867:2010