Reference number
ISO 22493:2014
© ISO 2024
International Standard
ISO 22493:2014
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
Edition 2
2014-04
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2014)

ISO 22493:2014

Язык
Формат
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2014-04
    Этап
    : Систематический пересмотр международного стандарта [90.20]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 1
    ICS :
    37.020  01.040.37 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 1
  6. ISO 22493:2014