International Standard
ISO 24173:2024
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Reference number
ISO 24173:2024
Edición 2
2024-02
© ISO 2024
International Standard
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No disponible en español
Publicado (Edición 2, 2024)

ISO 24173:2024

Idioma
Formato
CHF 173
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Resumen

This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2024-02
    Etapa
    : Norma Internacional publicada [60.60]
  • Edición
     : 2
    Número de páginas
     : 40
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS actualizaciones

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