Numéro de référence
ISO 6342:1993
© ISO 2024
ISO 6342:1993
Micrographie — Cartes à fenêtre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur
Edition 1
1993-08
Annulée
Annulée (Edition 1, 1993)

Résumé

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 1993-08
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 3
  • Comité technique :
    ISO/TC 171/SC 2
    ICS :
    37.080 
  • RSS mises à jour

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