Draft
International Standard
ISO/DIS 4508
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements
Reference number
ISO/DIS 4508
Edition 1
© ISO 2025
Проект Международный стандарт
Preview
недоступно на русском языке
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта находится на этапе рассмотрения членами ИСО.

ISO/DIS 4508

Язык
Формат
CHF 65
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This International Standard specifies the guidelines of the method and procedure for determining the effect of temperature on atomic force microscope (AFM) nano-scale dimension measurements. The effect of temperature can be evaluated by continuously measuring the changes of the X- and Y- pitches and height of a two-dimensional (2D) calibration grating in an environmental temperature controllable AFM. If necessary, this method and procedure can be used to evaluate the effect of temperature on dimension measurement of other scanning probe microscopes(SPMs).

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки

    You can help develop this draft international standard by contacting your national member

    Этап
    : Начало голосования по проекту между-народно-го стандарта: 3 мес. [40.20]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 9
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

3
Хорошее здоровье и благополучие
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO/DIS 4508